Дефектоскоп вихретоковый ВД-87НСТ. Предназначен для обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов в изделиях из ферромагнитных и немагнитных сталей и сплавов.
Применяется также для сортировки магнитных и немагнитных материалов на соответствие заданной марке.
В основу работы дефектоскопа положен метод регистрации изменений электромагнитного поля вихревых токов, обусловленных дефектом и электрофизическими свойствами объекта контроля.
Отличительные особенности АФ-44
обнаружение поверхностных дефектов;
обнаружение подповерхностных дефектов;
оценка глубины поверхностных дефектов.
Технические характеристики АФ-44
Минимальная толщина контролируемых изделий
mm
0,5
Максимальная толщина контролируемых изделий
mm
6,0
Порог чувствительности (глубина * ширина дефекта):
к поверхностным дефектам к подповерхностным дефектам
mm
0,2 * 0,1 0,3 * 0,3
Питание:
от сети переменного тока частотой 50Hz от источника постоянного тока
V
220 27
Время непрерывной работы
h
16
Габаритные размеры
mm
170х270х350
Масса
kg
8,9
Температура окружающего воздуха
C
+5 … +50
Комментарии пользователей
Количество комментариев: 0
Комментариев пока нет.
Другое оборудование из данной категории:
АФ-44
Прибор предназначен для диагностики состояния сосудов давления, трубопроводов, резервуаров и других нагруженных объектов в энергетике, судостроении, авиации, машиностроении, строительстве, на предприятиях нефтяной и газовой промышленности, контроля процесса обработки материалов.
Измеритель защитного слоя бетона ИПА-МГ4.02
Прибор ИПА-МГ4.02 предназначен для измерений толщины защитного слоя бетона и определения расположения оси арматуры в железобетонных изделиях и конструкциях согласно ГОСТ 22904...
Дефектоскоп вихретоковый ВД-87НСТ. Предназначен для обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов в изделиях из ферромагнитных и немагнитных сталей и сплавов.
Применяется также для сортировки магнитных и немагнитных материалов на соответствие заданной марке.
В основу работы дефектоскопа положен метод регистрации изменений электромагнитного поля вихревых токов, обусловленных дефектом и электрофизическими свойствами объекта контроля.
Комментарии пользователей